适用于纳米材料等各种样品（金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子和复合材料等）的微观形貌观察、微结构测定和微区成分分析。对于不导电样品，特别是氧化物纳米材料和半导体样品，可直接在超低电压下进行高分辨率观察。
本仪器不接收含铁钴镍的磁性样品，特别是磁性粉末，以及液体、熔融蒸发、挥发性样品
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